|
Технические характеристики
|
|
|
|
Измеряемые параметры
|
импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc)
|
|
Погрешность
|
±0,08%
|
|
Электрическое сопротивление (от)
|
10 мОм
|
|
Электрическое сопротивление (до)
|
100 МОм
|
|
Разрешение (R)
|
0,01 мОм
|
|
Электрическая емкость (от)
|
50 фФ
|
|
Электрическая емкость (до)
|
1Ф
|
|
Разрешение (C)
|
0,01 пФ
|
|
Индуктивность (от)
|
10 нГн
|
|
Индуктивность (до)
|
100 кГн
|
|
Разрешение (L)
|
0,1 нГн
|
|
Частота тест сигнала
|
10 Гц - 30 МГц
|
|
Диапазон частот
|
Не фиксированный
|
|
Особенности
|
прецизионный анализатор компонентов для высокочастотных измерений характеристик радиодеталей (17 параметров). Непрерывное (по диапазону частот) и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерени параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы (Auto FIT), цифр. растяжка (Zoom ±). Парал./ последов. схема замещения при измерении. Выбор архитектуры эквивалентной схемы из 7 типов (сочетание компонентов в ИУ). Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутр. пост. смещения ± 12В. Перекл. вых. импеданс - 25 Ом/ 100 Ом. Частота тест-сигнала
|
|
Интерфейс
|
GPIB, LAN, RS-232, USB (2)
|
|
Уровень тест сигнала
|
Перем. напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц), 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Перем. ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом) / 200 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Уровень пост. тест-сигнала (DC) до 1 Впост. (40 мА). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА
|
71516-18
