26 790
| Технические характеристики | |
| Измеряемые параметры | импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc) |
| Погрешность | ±0,08% |
| Электрическое сопротивление (от) | 10 мОм |
| Электрическое сопротивление (до) | 100 МОм |
| Разрешение (R) | 0,01 мОм |
| Электрическая емкость (от) | 50 фФ |
| Электрическая емкость (до) | 1Ф |
| Разрешение (C) | 0,01 пФ |
| Индуктивность (от) | 10 нГн |
| Индуктивность (до) | 100 кГн |
| Разрешение (L) | 0,1 нГн |
| Частота тест сигнала | 10 Гц - 50 МГц |
| Диапазон частот | Не фиксированный |
| Особенности | прецизионный анализатор компонентов для высокочастотных измерений характеристик радиодеталей (17 параметров). Непрерывное (по диапазону частот) и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерени параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы (Auto FIT), цифр. растяжка (Zoom ±). Парал./ последов. схема замещения при измерении. Выбор архитектуры эквивалентной схемы из 7 типов (сочетание компонентов в ИУ). Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутр. пост. смещения ± 12В. Перекл. вых. импеданс - 25 Ом/ 100 Ом. Частота тест-сигнала |
| Интерфейс | GPIB, LAN, RS-232, USB (2) |
| Уровень тест сигнала | Перем. напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц), 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Перем. ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом) / 200 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Уровень пост. тест-сигнала (DC) до 1 Впост. (40 мА). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА |
